实验室发表在TOIT的论文被评为ESI高被引论文
我们发表在TOIT的论文 “Digital Twin of Intelligent Small Surface Defect Detection with Cyber-Manufacturing Systems” 被评为ESI高被引论文。
我们发表在TOIT的论文 “Digital Twin of Intelligent Small Surface Defect Detection with Cyber-Manufacturing Systems” 被评为ESI高被引论文。